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    首页 > 产品展示 > 堆栈式测试插座

    堆栈式测试插座

    P0.4间距高精度堆叠式封装测试装置

    -自主开发结构设计,简单耐用

    -显著的接触电阻稳定性和超长的使用寿命

    -适用P0.4 P0.5堆栈式封装

    -适用手测,机测等多种测试方式

    联系我们
    产品介绍

    FTD的堆栈式测试插座能精确的将上下芯片上的焊盘连接起来。FTD有能力设计对电性能不同要求适合最小0.4mm间距的堆栈式插座。

    产品特点

    FTD自主研发加工工艺,稳定的测试性能和使用寿命   

     >0.4mm 引脚间距   

    三温测试能力-55°C-150°C

    封装类型

    ●  POP 堆栈式封装

    机械性能

    ●  产品引脚间距: 0.4mm 及以上

    ●  探针弹力: 15g -40g

    ●  测试行程:0.3mm -0.65mm

    可靠性

    ●  探针使用寿命:200K-500K                     

    ●  测试插座使用寿命: >5KK                 

    ●  清洁频率:50K-100K


    使用材料

    ●  socket材料: 工程塑料

    ●  弹簧探针头材料: 合金 

    ●  弹簧材料: 弹簧钢


    电性能

    ●  接触电阻:50mΩ

    ●  电流承载能力:2.5A 持续电流

    ●  带宽: > 30GHZ @-1db


    使用环境

    ●  温度范围: -55°C - 150°C

    在线留言

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